Durometro micro Vickers automatico HYHVS-1000ZT2.1
Tester di durezza micro Vickers completamente automatico HYHVS-1000ZT3.1
Panoramica del prodotto
Le serie HYHVS-1000ZT2.1 / HYHVS-1000ZT3.1 sono tester di durezza micro-Vickers intelligenti di fascia alta-per prove sui materiali a livello di micron-. Adottando il collegamento a 3 assi, l'imaging ottico intelligente e una tecnologia di misurazione e controllo completamente automatica, realizzano test dell'intero processo non presidiati, dal microposizionamento, dal caricamento preciso alla misurazione dell'indentazione e all'analisi dei dati.
- HYHVS-1000ZT2.1: tester di durezza Micro Vickers semiautomatico a 3 assi
- HYHVS-1000ZT3.1: tester di durezza Micro Vickers a 3 assi completamente automatico (test in batch non presidiato)
Conforme a ASTM E384, ISO 6507, GB/T 4340.1, ideale per rivestimenti sottili, leghe di precisione, wafer semiconduttori e ricerca avanzata sui materiali.
Vantaggi fondamentali
Test automatico del processo completo-non presidiato
Funzionamento intelligente con un-clic: posizionamento automatico del micro-asse XYZ-, messa a fuoco ottica, cambio obiettivo-torretta penetratore, caricamento-sosta-scarico. Supporta percorsi di prova preimpostati su più-punti (zigzag, lineare, circolare) e riconoscimento automatico dei bordi per il rilevamento della micro-durezza batch. La forza di prova varia da 0,001 a 1 kgf con controllo preciso della forza-a circuito chiuso.
Imaging ottico e misurazione AI ad alta-precisione
Gli obiettivi 100X e 400X + la fotocamera CCD industriale ad alta-definizione garantiscono un'imaging della rientranza ultra-chiaro. L'algoritmo di riconoscimento AI integrato-misura automaticamente la diagonale del rientro con una precisione fino a 0,025 μm, eliminando gli errori di lettura umani. Supporta la commutazione su doppia scala HV/HK-e la conversione di valori di durezza multi-.
Potente software intelligente e gestione dei dati
Software di test professionale con visualizzazione del campione 3D e scansione panoramica. Supporta il passaggio dal cinese all'inglese, le statistiche dei dati, il giudizio di tolleranza, il disegno della curva del gradiente e l'esportazione con un-clic di report di test Excel/PDF/Word. Sono disponibili il controllo remoto e la trasmissione dati in rete per la tracciabilità dei dati di laboratorio.
Struttura stabile ad alta-rigidità e protezione multipla-
Il-telaio in ghisa ammortizzante resiste alle interferenze delle vibrazioni esterne. Dotato di funzioni di protezione anti-collisione, sovraccarico e sovra-corsa del penetratore. Supporta il funzionamento multi-modalità tramite joystick 3D, tastiera e mouse per test a lungo termine-senza fatica-.
Rilevamento batch ad alta-efficienza per i settori-di fascia alta
L'automazione migliora l'efficienza dei test multi-punto di 4-6 volte e riduce i costi di manodopera. L'eccellente ripetibilità dei dati lo rende la scelta migliore per gli istituti di semiconduttori, produzione di precisione e ricerca scientifica.
Parametri tecnici
Parametri dell'unità principale
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Articolo |
Specifica |
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Campo di misura |
1-3065HV |
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Forza di prova |
0.09807-9.807N (10-1000gf) |
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Scala di durezza |
HV0.01, HV0.025, HV0.05, HV0.1, HV0.2, HV0.3, HV0.5, HV1 |
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Ingrandimento |
100X, 400X |
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Risoluzione |
0.0625μm, 0.25μm |
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Massimo. Altezza del campione |
75 mm |
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Distanza dal centro del penetratore-alla-parete |
110 mm |
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Alimentazione elettrica |
CA 220 V, 50/60 Hz |
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Dimensione complessiva |
470×320×500mm |
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Peso netto |
~40 kg |
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Standard di esecuzione |
ASTM E384, ISO 6507, GB/T 4340.1 |
X-Y Parametri del banco prova delle coordinate automatiche
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Articolo |
Specifica |
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Modalità di guida |
Motore passo-passo ad alta-precisione |
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Modalità operativa |
Controllo manuale/computer/controllo joystick |
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Dimensioni del tavolo |
120×130mm |
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Viaggio sull'asse X- |
50 mm |
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Viaggio sull'asse Y- |
50 mm |
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Passo minimo |
Inferiore o uguale a 2,5μm |
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Ripetibilità |
Inferiore o uguale a 2μm |
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Velocità di movimento |
regolabile su 5 livelli |
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Alimentazione elettrica |
CA 220 V, 50/60 Hz |
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Interfaccia di comunicazione |
Porta seriale RS232 |
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Peso netto |
~4 kg |
Gamma di applicazione
- Materiali avanzati: rivestimenti sottili, leghe di precisione, scaglie di ceramica, giunti di saldatura, strati trattati in superficie-
- Settori-high tech: wafer di semiconduttori, componenti elettronici, imballaggi microelettronici
- Ricerca scientifica: micro-ricerca sui materiali, analisi metallurgiche, laboratori universitari
- Produzione di precisione: parti di precisione, dispositivi medici, micro-componenti aerospaziali
- Ispezione di qualità: test di micro-durezza in batch, controllo di qualità del processo, istituti di test-di terze parti
Configurazione di sistema standard
Parti principali del sistema
- Banco di prova a coordinate automatico ×1
- Scatola di controllo da banco ×1
- Software di misurazione e dongle ×1
- Fotocamera digitale con interfaccia dedicata ×1
- Cavo di connessione dati speciale ×1
- Computer industriale di marca ×1
Dispositivi di prova ausiliari
- Banco prova-per alberi sottili ×1
- Banco di prova per piastre-sottili ×1
- Morsa a ganascia piatta ×1
- Blocco grande a forma di V-×1
- Piccolo blocco a forma di V-×1
Materiali di consumo e accessori
- Penetratore piramidale diamantato ×1
- Blocco di micro-durezza standard ×2
- Mini stampante ×1
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